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德国Mahr 薄膜测厚仪C1208测量精度高,分辨率可达0.1μm
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德国Mahr 薄膜测厚仪C1216在量程±200um范围内最高分辨力为0.01un
德国Mahr C1245薄膜测厚仪可测量16个特征值,能存储5000个测量数据
CX-1000薄膜测厚仪可实现微米0.001mm精度
CX-1030薄膜测厚仪AutoCalTM自动校准,并提供专用触点探针和连续接触分析
CX-1020薄膜测厚仪AutoCalTM用于自校准和接触分析
CX-1025薄膜测厚仪手动和自动水平位移
CX系列薄膜测厚仪支架/控制器用户薄膜测厚仪样品导向处理
MX-1100薄膜测厚仪精度:0.1μm
成都站、北京站广州站、上海站香港站
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